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將資料中心晶片轉化為系統感測器
proteanTecs供稿
較低的功耗意味著更低的營運成 本，這並不是什麼秘密，但將這一 概念轉化為現實卻需要遠見卓識 和數據。
化方程變得更加明朗。
每顆晶片都無法完全相同。 批次、晶圓甚至晶片內製程偏差 (OCV)在先進SoC中都很常見，製 造商需要單獨檢查每顆晶片。有 些晶片速度快，有些速度慢;有些 晶片漏電較大，有些則較小。為了 平衡這種差異，工程師在其最佳 工作條件下確定不同晶片的參數 和保障區間，在保證品質和可靠性 的同時判定其是否具備上市資格。
「製程邊界」(極限條件)。最知名 的技術也是收集許多參數並對其 進行平均，使其難以將測量資料 與準確製造參數關聯在一起，所 以也只能提供非常粗略的可見性。
資料中心功耗過大是營運商 面臨的一個多維度問題。保證硬 體正常工作所需的能源會增加共 用事業費用，同時管理者則竭盡 所能維持最佳的設施溫度。其中 並未考慮由於伺服器或交換機未 工作在最佳狀態而造成熱量累積， 進而導致內部元件過度磨損而引 起的成本。
為了克服這些局限性，生產團 隊在其測量基礎上增加保障區間， 以補償不準確性。此外，由於時間 推移發生的性能衰減，也將終身 老化效應考慮在內，進而造成資 料中心甚至採用更高的工作電壓。
現在，功耗、性能、可靠性和 成本是可以相互轉化的。雖然這 個問題並不是什麼新問題，但新 興的深度數據領域正在使這一轉
但當前方法的解析度和深度 不足。功耗特徵分析是在選定的樣 本上進行，這些樣本往往來自於刻 意偏移的工程批次，以代表不同的
顯而易見，我們需要一場數 據革命。
圖1:基於UCT的精密特徵分析支援點對點節能。
www.eettaiwan.com | 2021年10月
靠性。與健康領域的革命性基因組 測序一樣，UCT使電子製造商能 夠理解每片晶片獨一無二的DNA， 提供精密特徵分析。工程師能夠逐
零和遊戲
通用晶片遙測(UCT)技術透過 在先進SoC中嵌入智慧，將晶片轉 化為智慧系統感測器。資料中心營 運商及其供應鏈最終能夠不折不 扣地獲得降低功耗所需的可見性。
個性化電源
proteanTecs的UCT技術將 晶片監測器與AI驅動洞察力(AI- driven insights)相結合，導入了內 部可見性(visibility from within) 的概念。應用雲端分析平台對UCT 資料應用機器學習演算法，能夠以 高覆蓋率、高解析度理解系統在其 整個生命週期內的功耗、性能和可
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