Page 57 - 手機為什麼還要用「獨立」ISP？

TEST & MEASUREMENT
圖2:基於AWG產生的12個電壓值，以及流經矽二極體的電流所形成的V-I 曲線。
圖4:以單色餘輝所呈現的X-Y顯示圖。其中，狀態轉換圖的資料狀態顯示為 加亮點，而多個過渡的相位路徑顯示得更亮。
指數加權射頻脈衝的平方和所定 義的旋轉向量追蹤路徑。X-Y游標 讀取相對於X正軸的向量幅度(半 徑)和相位，以及通道1和2中源採 樣點的電壓。這些游標讀數會追 蹤X-Y、X-T和Y-T波形圖，這意味 著任何游標測量向量的源分量是 被同時測量的。401mV向量幅度 的X分量是349.6mV，而Y分量為 196.9mV。此資訊在使用正交訊號 生成的應用中非常有用，例如雷達 和數位通訊應用，因為可以很容易 地追溯到這些向量參數的誤差源。
圖3:兩個正交訊號的X-Y顯示圖顯示了向量(訊號的平方和)的相位跡線，X-Y 游標可以讀取向量幅度(半徑)和相位(角度)，以及笛卡爾(Cartesian)座標 值。
圖5:用於測量功率FET工作區域(SOA)的X-Y顯示圖，圖中繪製了汲極電流 與漏源電壓之間的關係。「通過/失敗」(Pass/Fail)測試將X-Y顯示圖與範本 進行比較，紅色圓圈表示失敗。
個相位狀態以兩個不同的向量幅 度被寫入兩次，看起來也更亮，因 此，餘輝圖提供了有關此測量的 附加資訊，包括更清楚地顯示重 疊向量。
X-Y顯示圖也可以提供餘輝顯
跨FET的漏源電壓(VDS)應用 於水平軸，汲極電流應用於垂直 軸。X-Y顯示圖的垂直部分表示
示，從而保留圖中被覆蓋的多條跡 線，餘輝顯示功能使用強度或顏色 顯示所顯畫素的出現頻率。圖4展 示了一個16QAM訊號的同相(I)和 正交(Q)分量以及在Q分量基礎上 顯示I分量的X-Y狀態轉換圖，這個 X-Y顯示圖中使用的是單色餘輝。
與功率相關的X-Y測量
狀態轉換圖顯示了每條轉換 路徑末尾的資料狀態，並標記了 資料狀態之間的路徑。波形在每 個資料狀態上花費的時間，比在轉 換路徑上花費的時間要多，因此資 料狀態在X-Y顯示圖上顯示為更亮 的點。45、135、225和315度的四
X-Y顯示圖可用於功率開關元 件的測量。圖5繪製了功率FET上 的電壓與電流的關係，以確保元件 工作在其安全工作區域(SOA)內。
2022年9月 | www.eettaiwan.com
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