Page 52 - 5G SA開台多重無線技術測試再添挑戰

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而且消除了佔位面積問題和爬電距 離/間隙問題。
方面也有不利之處。但是，這裡的 情況似乎並非如此。事實上，這是 我近年來第二次看到小型非IC元件 出現這種情況。有些供應商已經在 一個外殼中設計了可充電電池和超 級電容器的組合，它們提供的可不 光是更小的共同封裝，而是對元件 構造和物理特性的根本性再思考。 其結果遠遠優於兩個單獨的能量 儲存元件之和，實現了「一加一大 於四」的效果!
結合兩種技術優勢:即時延遲與相移器
這種電路保護元件不只是 「兩全其美」，該設計還有其他優 勢。MOV故障(是的，它們具有眾所 周知的各種故障模式)通常以金屬 化區域邊緣的所謂「浪湧孔」為特 徵，這通常是由浪湧期間該邊緣的 MOV內部溫度升高引起。
感興趣。在這裡，除了明顯節省空 間外，這種組合還能提供性能和 法規遵從方面的優勢。退一步說， 想想能夠「開箱即用」(實際上，這 裡是「入箱即用」)，並查看內部結 構細節後發現，這種保護元件確 實具有實實在在的好處。
當組合產品不僅僅是其組成 部分的簡單累加時，它總會讓人
我們經常看到透過合併封裝 來實現更高水準的功能整合，從 而形成更小的外殼或晶片，這通常 是一件好事，但有時在性能折衷
Bilgin Kiziltas，ADI 現場應用工程師
本文概述兩種電子波束成形技術 的優點和缺點:相移器(PS)和即 時延遲(TTD)。一般認為可以在混 合波束成形架構中組合使用此兩 種方法，以提供更好的SWaP-C和 複雜程度相對較低的系統設計。
需調諧，即可保持在基於系統要求 設定的目標性能指標內的頻段。
訊號頻率。
(1)
使用公式(1)，可以計算出在 最壞情況下，即低頻率邊緣(載波 頻率為3GHz，暫態訊號頻率為 2.9GHz)下，±30°波束轉向角系 統的Δθ約為1.15°，訊號頻率為 3GHz，IBW為100MHz。在最壞情 況下，將波束轉向角調節到±60°， 將IBW調節到200MHz，會導致約 8.11°的波束斜視。很明顯，即使 在雷達應用中，TTD也是更合適 的選擇。可以說相較於TTD，PS 的設計簡單和成本優勢使其適用 於更廣泛的市場，所以ESA主要 採用相移器。
電子掃描陣列(ESA)使用PS 或TTD或兩者的組合，在陣列的 轉向角限值內使彙聚波束指向目 標方向。用於實現錐形波束的可 調衰減器也可以被視為波束成形 元件。本文將探討在相同的ESA 中，可從何處，以及如何使用TTD 和PS分層方法來因應相位陣列設 計挑戰。
TTD在該頻率範圍內具有恆 定的相位斜率;因此，使用TTD， 而非使用PS的ESA建置方案不會 出現波束斜視效應。所以，對於 高IBW應用而言，基於TTD的ESA 更加方便。
利用基本公式探索可能的使 用場景
此現象被稱為波束斜視，可 以使用公式(1)計算，其中Δθ表 示峰值斜視角，θ0表示最大波束 角，f0表示載波頻率，f表示暫態
暫態頻寬(IBW)可以定義為無 www.eettaiwan.com | 2022年10月
如果TTD能夠符合系統要
PS在其工作頻率範圍內具有 恆定的相位;因此，在整個系統 中，特定的相移器設定會導致在 不同的頻率下產生不同的波束轉 向角。所以相較於基於TTD的陣 列，基於PS的陣列的IBM範圍可 能更窄一些。
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