Page 57 - 企業轉型腳步不停歇2022年數位優先世界成形

TEST & MEASUREMENT
種材料都有優勢和劣勢，如圖5所 示，偵測器的選擇在很大程度上 取決於涉及的光的波長。在波長 小於800nm時，矽是唯一的選擇。 但大部分電信設備的工作波長是 1,300nm~1,700nm，在這種情況 下，InGaAs似乎是最佳選擇，因為 其回應相當一致，而且能夠支援最 高約1,700nm的波長。
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來自雷射二極體的輸出可透 過多種方式耦合到偵測器。其中 一種方式是將雷射直接對準偵測 器，但這種方式有多種缺點，並不 是所有光都能到達偵測器。對封 裝零件而言，通常最佳的解決方案 是積分球——內部是一個空心球， 外面包著一層反射材料，配有一個 偵測器安裝架，有一個埠饋入要量 測的光。積分球接收來自光源的 所有光，隨機化其偏振，將光均勻 地分佈在內部表面。然後通過球 體側面安裝的偵測器會「看到」饋 入球體的光可量測、可重複的部分 (大約1%)。
圖5:偵測器的選擇在很大程度上取決於涉及的光的波長。
圖6:雷射二極體模組典型的LIV測試設定。可以使用相同的儀器測試VCSEL，2601B-PULSE用來為待測 裝置提供10A @ 10V @ 10μs的電流脈衝，使用數位萬用電錶監測光輸出，同時由TEC控制模組溫度。
待量測的光很充足，但不足 以讓偵測器超載。不過，在晶圓級 測試VCSEL時，積分球並不實用。 在正常情況下，晶圓探棒會透過探 棒卡在電氣上連接到每個裝置。
探棒台還將光偵測器直接放 在裝置上方。如果探棒卡能夠同 時連接多個裝置，則可建構與圖6 所示的類似測試系統，每次在探棒 卡接觸晶圓時測試所有裝置。由於 晶圓上的裝置數量高，使用掃描方 式測試多個裝置可能會耗時很長。 對要求高輸送量的應用，最佳解決
方案通常是使用多對儀器來平行 測試多個裝置。
間短，對大多數商用光功率計而言 並非合適的訊號，一般而言，脈衝 LIV測試中最困難的任務之一是擷 取雷射二極體在峰值時的脈衝式 光輸出。光功率計是為通常要求 幾秒積分時間完成一個讀數的高 準確度量測而設計。儘管可以使用
擷取脈衝式雷射光輸出
在脈衝LIV測試中，最困難的 任務之一是擷取雷射二極體在峰值 時的脈衝式光輸出。光脈衝持續時
2022年1月 | www.eettaiwan.com