Page 58 - 企業轉型腳步不停歇2022年數位優先世界成形

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這些儀器，但其要求很長的積分週 期，才能累積數千個雷射脈衝。然 後韌體或外部PC的測試程式必須 計算峰值光功率，並假設平均功 率是驅動雷射的電流脈衝的工作 週期的函數。
試結果與非脈衝式測試結果，可以 得到與DUT效能更完整的資訊。
效率和低成本是在現今製造 生產環境中生存的關鍵因素。測 試必須快速、準確、成本低，這意 味著使用光功率計並不是最佳選 擇，因為會隨著時間積分光輸出， 低工作週期輸入可能會延長積分週 期。此外，量測的準確度取決於脈 衝工作週期的準確度，以及光輸出 的工作週期與電輸入的工作週期 的匹配程度。
可以在記憶體中儲存使用者自訂的 測試序列，並通過命令執行這些測 試序列。
還有一個進一步假設，即雜 訊訊號的積分是零。由於光功率 計存在的缺陷，測試工程師已為 脈衝式LIV測試設計出更快速、更 準確的測試方法。量測饋送高速 脈衝的雷射二極體中的電壓和電 流並不容易。
總結
本文回顧了電纜電感的影響、 熱量管理需求，以及建立脈衝式和 直流LIV測試系統的各種組成部分。 在生產輸送量至關重要時，2601B- PULSE System SourceMeter是一 種理想的解決方案，因為這在一台 儀器中同時提供了脈衝產生器和 SMU。這款儀器的脈衝產生器功能 提供了可靠且可重複的脈衝波形、 寬度、上升時間和下降時間(最高 可達10A @ 10V，最低可達10μs)。 這 款 儀 器 提 供 了 許 多 好 處，包 括:
在歷史上，最常用的方法是採 用機架安裝的多台儀器，並在PC 控制器上執行相當複雜的客製化 軟體。除使用PC進行測試定序和訊 號分析外，這一系統使用的設備還 有電流脈衝產生器/SMU儀器、光 量測裝置(光電偵測器等)、TEC儀 器，以及數位萬用電錶(用來量測積 分球或光電偵測器的輸出訊號)。
對許多儀器而言，PC負責控 制測試的所有流程。在測試序列 的每個要素中，必須為每項測試 配置儀器，儀器執行所需的操作， 然後將資料返回主控PC。然後主 控PC必須評估測試通過/未通過 指標，執行相應操作來約束待測裝 置。發送和執行的每條命令都會佔 用寶貴的生產時間，降低輸送量。
• 不需手動調諧脈衝輸出就可以 確保高脈衝完整性，縮短測試
這類系統的設計方式是同時 包括脈衝式工作模式和非脈衝式 工作模式。這種雙重功能可以使 用相同的量測通道，在一個平台 上執行兩類LIV掃描(脈衝式和直 流)，如Keithley 2601B-PULSE System SourceMeter 10μs脈衝 產生器/SMU儀器。2601B-PULSE 的控制迴路系統對3μH以下的負 載變化不需要進行調諧，因此在 電流高達10A，輸出10μs~500μs 的脈衝時，電流脈衝沒有過衝和振 鈴。這保證了快速上升時間，可以 為裝置提供電流脈衝，正確分析裝 置或電路特性。透過對比脈衝式測
顯而易見地，此測試序列中 有很大的部分是與PC來回傳送 資訊。2601B-PULSE和Keithley 最新DMM (如DMM7510和 DMM6510)等儀器提供了獨特功 能，透過降低通訊匯流排上的業 務量，明顯提高複雜測試序列的 輸送量。
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時間，節省生產成本; 使用一台儀器進行直流/脈衝 電流和電壓量測; 滿懷信心地分析VCSEL的特 性，並開發下一代材料、裝置 和模組; 使裝置自熱狀況達到最小， 盡可能地降低探棒頭燒毀風 險，保護VCSEL、VSCEL陣 列、LED; 量測低達單位數ms的取樣速 率，同時輸出1μs，10A @ 10V 電流脈衝。
(本文由Tektronix提供)
www.eettaiwan.com | 2022年1月
系統速度和輸送量
這種方式限定了測試序列中 每一步的「設定」和配置時間，提 高了輸送量，因為其減少了儀器與 PC之間的通訊數量。
在這些儀器中，絕大部分的測 試序列嵌入在儀器中。Test Script Processor (TSP)是一種全功能測 試序列引擎，可以控制測試序列， 並擁有內部測試通過/未通過指 標、計算和數位I/O控制功能。TSP
TEST & MEASUREMENT